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  • 校招

    發展趨勢

    新興領域需求廣泛

    消費電子、物聯網及汽車電子需求增長

    嵌入式NOR Flash

    需求維持發展

    生命周期

    產品生命周期較長

    競爭激烈

    需要快速完成驗證并量產,及時推向市場

    質優價廉

    低成本高效率測試方案

    方案概述

    Per-pin PMU供電模式

    最大化并測

    動態負載模擬I2C上拉電阻

    減少外圍元件

    大容量
    Pattern Memory

    滿足中小容量flash全地址讀寫

    125MHz/250Mbps DIO功能向量

    滿足高速讀寫需求

    High-Voltage數字輸入

    滿足高編程及trim需求



    核心優勢

    CORE ADVANTAGES

    邏輯、軟件特別優化

    并測效率提升30%以上

    定制化repair功能

    應對不同客戶需求

    模塊化設計

    軟硬件無縫轉化多工位量產測試

    DIO雙指令集

    高效trim修調測試

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