首頁
產品中心
ATE
ST2500系列高性能數字混合信號測試系統
ST5000系列高性能數字混合信號測試系統
測試模塊
BTS08藍牙測試模塊
VIS20模塊
半導體測試工程師實訓平臺
解決方案
產業方案
MCU/SoC測試方案
存儲芯片測試方案
CIS測試方案
高速接口SLT測試方案
教育方案
教育培訓方案
成功案例
產業案例
S公司MCU定制化測試方案
W公司高效高性價比CP測試方案
教育案例
電子科技大學研究生課程項目—集成電路產業創新和集成電路測試實踐
技能中國系列培訓·微電子職業教育師資培訓(第三期)項目
關于我們
公司介紹
發展歷程
榮譽展示
新聞動態
聯系我們
加入我們
服務支持
資料下載
登錄
/
注冊
搜索
首頁
產品中心
ATE
ST5000系列高性能數字混合信號測試系統
ST2500系列高性能數字混合信號測試系統
測試模塊
VIS20模塊
半導體測試工程師實訓平臺
BTS08藍牙測試模塊
解決方案
產業方案
MCU/SoC測試方案
存儲芯片測試方案
CIS測試方案
高速接口SLT測試方案
教育方案
教育培訓方案
成功案例
產業案例
S公司MCU定制化測試方案
W公司高效高性價比CP測試方案
教育案例
電子科技大學研究生課程項目—集成電路產業創新和集成電路測試實踐
技能中國系列培訓·微電子職業教育師資培訓(第三期)項目
關于我們
公司介紹
發展歷程
榮譽展示
新聞動態
聯系我們
加入我們
服務支持
資料下載
方案
存儲芯片測試方案
發展趨勢
方案概述
核心優勢
發展趨勢
新興領域需求廣泛
消費電子、物聯網及汽車電子需求增長
嵌入式NOR Flash
需求維持發展
生命周期
產品生命周期較長
競爭激烈
需要快速完成驗證并量產,及時推向市場
質優價廉
低成本高效率測試方案
方案概述
Per-pin PMU供電模式
最大化并測
動態負載模擬I2C上拉電阻
減少外圍元件
大容量
Pattern
Memory
滿足中小容量flash全地址讀寫
125MHz/250Mbps DIO功能向量
滿足高速讀寫需求
High-Voltage數字輸入
滿足高編程及trim需求
核心優勢
CORE ADVANTAGES
邏輯、軟件特別優化
并測效率提升30%以上
定制化repair功能
應對不同客戶需求
模塊化設計
軟硬件無縫轉化多工位量產測試
DIO雙指令集
高效trim修調測試
相關產品
ST2516
160數字通道,160PPMU通道,20DPS
ST2516
160數字通道,160PPMU通道,20DPS
查看詳情
ST2532
320數字通道,320PPMU通道,40DPS
ST2532
320數字通道,320PPMU通道,40DPS
查看詳情
ST2564
640數字通道,640PPMU通道,80DPS
ST2564
640數字通道,640PPMU通道,80DPS
查看詳情
ST2628
1280數字通道,1280PPMU通,160DPS
ST2628
1280數字通道,1280PPMU通,160DPS
查看詳情
ST5000
512數字通道,512PPMU通道,64DPS
ST5000
512數字通道,512PPMU通道,64DPS
查看詳情
ST5000HD
1024數字通道,1024PPMU通道,128DPS
ST5000HD
1024數字通道,1024PPMU通道,128DPS
查看詳情
成功案例
S公司MCU定制化測試方案
W公司高效高性價比CP測試方案
把您的需求告訴我們,
讓我們優秀的團隊為您提供優質的服務!
立即聯系
在線咨詢
在線留言
*
姓名
*
電話
*
郵箱
*
公司名稱
所在地
*
公司職位
*
問題描述
*
驗證碼
立即申請
0571-81112331
久久免费看少妇高潮a片