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  • 校招

    發展趨勢

    應用場景廣泛

    物聯網及汽車電子等需求快速增長

    需求嚴苛

    品質高、功能覆蓋全

    競爭激烈

    需要快速完成驗證并量產,及時推向市場

    低成本高效率

    對成本及效率的需求不斷提高

    方案概述

    125MHz/250Mbps DIO功能向量

    滿足高速讀寫需求

    大容量向量

    scan模式,支持 DFT測試

    Per-pin DSIO功能

    提供AD/DA測試功能

    High-Voltage數字輸入

    提供嵌入式memory測試條件

    板載AWG/DIG提供

    混和信號測試功能

    核心優勢

    CORE ADVANTAGES

    All-in-One設計

    IO通道與其他資源配比1:8 完全并行測試

    模塊化設計

    單芯片調試通過后,軟硬件無縫轉化 多工位量產測試

    DIO雙指令集

    高效trim修調測試

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